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產(chǎn)品[

半導(dǎo)體器件靜電放電發(fā)生器

]資料
如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱: 半導(dǎo)體器件靜電放電發(fā)生器
產(chǎn)品型號(hào): ESS-6002/6008
產(chǎn)品展商: 艾仕歐
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔


簡(jiǎn)單介紹
半導(dǎo)體器件靜電放電發(fā)生器ESS-6002/6008主要是考查實(shí)際上給電子設(shè)備安裝半導(dǎo)體元件時(shí),半導(dǎo)體元件所受到的抗靜電破壞能力的靜電試驗(yàn)器。半導(dǎo)體器件靜電放電發(fā)生器ESS-6002/6008已經(jīng)生產(chǎn)10多年,*高機(jī)械模式可以達(dá)到8KV,并已經(jīng)得到各行業(yè)的廣泛認(rèn)可。

半導(dǎo)體器件靜電放電發(fā)生器

的詳細(xì)介紹

半導(dǎo)體器件靜電放電發(fā)生器特征:

- 考查實(shí)際上給電子設(shè)備安裝半導(dǎo)體元件時(shí),半導(dǎo)體元件所受到的抗靜電破壞能力的靜電試驗(yàn)器。
- 半導(dǎo)體元件因受靜電可能發(fā)生內(nèi)部配線,絕緣膜的熔斷,破壞等而導(dǎo)致產(chǎn)品特性裂化,誤動(dòng)作的現(xiàn)象。
- 對(duì)于此靜電破壞試驗(yàn),只需利用1 臺(tái)弊司小型ESS-600X 更換探頭就可簡(jiǎn)單實(shí)行人體帶電型,機(jī)器帶電型的試驗(yàn)。還有,可用選件中的精密型支架可對(duì)超細(xì)密間- - 距元件做半自動(dòng)的試驗(yàn)。
- *適合用于進(jìn)行LED,LCD, 光元件等電子部品的靜電破壞耐性試驗(yàn)。
- 精密型支架

  • - 可做*高輸出電壓±8KV 試驗(yàn)(ESS-6008)

  • - 可做出留有余量的試驗(yàn)

  • - 可對(duì)各種間距的受測(cè)元件進(jìn)行靜電施加試驗(yàn)

  • - 可搭配精密測(cè)臺(tái),以半自動(dòng)(Y 軸)的腳位移動(dòng)而正確的對(duì)待

  • - 測(cè)物施加靜電

  • - 可做*低試驗(yàn)電壓±10V 的試驗(yàn)(ESS-6002)

  • - 對(duì)于低電壓驅(qū)動(dòng)元件的評(píng)價(jià)可從10V 開(kāi)始以1V 的步長(zhǎng)予施加

  • - 可對(duì)應(yīng)規(guī)格 

 

半導(dǎo)體器件靜電放電發(fā)生器對(duì)應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)

人體模型試驗(yàn) (HBM) 機(jī)械模型試驗(yàn) (MM)
AEC-Q100-002-Rev.D Jul.2003 AEC-Q100-003-REV-E  Jul.2003
ESDA ANSI/EOS/ESD-STM5.1-2001 ESDA ANSI/ESD STM5.2-1999
IEC 61340-3-1Ed.1.0 2002 IEC 61340-3-2 Ed.1.0-2002
IEC 60749-26 Ed.1.0 2003 IEC 60749-27 Ed.1.0 2003
JEDEC JESD22-A114E Jan 2007 JEDEC JESD22-A115A Oct.1997
JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001 Test Method304 JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001
MIL-STD-883G Method 3015.7 Mar.1989  

 

規(guī)格半導(dǎo)體器件靜電放電發(fā)生器 (ESS-6002/ESS-6008) 


項(xiàng)目
功能/性能
ESS-6002 ESS-6008
輸出電壓 10~2000V±10%(ESS-6002) 1V步進(jìn) 100~8000V±10%(ESS-6008) 10V步進(jìn)
輸出極性 正或負(fù)
重復(fù)周期 0.3~99s±10%
到10s為止0.1s步進(jìn) 10s以后1s步進(jìn)
放電次數(shù)  1~99次/連續(xù)
Automatic output voltage ramping Available
尺寸 (W)340×(H)×199×(D)300mm(不含突起部分)
尺寸 約6kg

 

半導(dǎo)體器件靜電放電發(fā)生器簡(jiǎn)易型探針臺(tái) <18-00075A> 

項(xiàng)目 功能/性能
尺寸/重量(探針臺(tái)主機(jī)) (W)200×(H)330×(D)290mm/約1.5kg
尺寸/重量(簡(jiǎn)易放電板)  (W)100×(H)27×(D)180mm(不含突起部)/約200g
鉗口尺寸 110mm
其他 POM造V型部件1個(gè) 標(biāo)準(zhǔn)附件

 

半導(dǎo)體器件靜電放電發(fā)生器半自動(dòng)精密型探針臺(tái) <18-00076A> 

由于半自動(dòng)精密型探針臺(tái)的*小分辨率為0.01mm,所以可以簡(jiǎn)單地對(duì)毫米間距和英寸間距等極小間距的半導(dǎo)體進(jìn)行試驗(yàn)

項(xiàng)目 功能/性能
尺寸/重量 (W)250×(H)400×(D)300mm/約7kg
可對(duì)應(yīng)IC *大尺寸:40mm角 *小導(dǎo)線間距:0.4mm
X軸 手動(dòng) 移動(dòng)量:20mm ×燕尾槽、進(jìn)給螺桿
Y軸 電動(dòng)(*大速度:13mm/s)移動(dòng)量:40mm(Y分辨率:0.01mm)*步進(jìn)馬達(dá)&滾珠螺桿
θ軸 手動(dòng) 移動(dòng)量:360°
Z axis 手動(dòng) 移動(dòng)量:20mm *內(nèi)置彈簧下壓式
回原點(diǎn) 手動(dòng)
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